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新世代の静電気テスト方法:Pin-Direct Inject方式による製品の静電気保護能力テスト2013/08/02

多くの電子製品において、ESDやEMIなどの安全に関する基準がますます重要視されている。その理由は、ユーザの電子製品に対する品質の要求だけではなく、IT電子製品のグローバル化やユーザが製品を携帯して行動する範囲がどんどん広がっていることにある。

 

例えば、台湾で1台のコンピュータを設計したとする。その後、そのコンピューターは中国南部で製造され、北米で販売される。このように、それぞれの環境によって温度や湿度が異なるため、静電気の問題はとても重要であり、電子製品はそれ自身の保護能力を高める必要がある。

 

このため、OEM/ODMメーカーは多くの解決手段を採用しており、また、システムメーカは、製品の安全品質が利益の増加やブランド力向上の唯一の方法であることを良く理解している。

 

多くの電子製品の外部インターフェイス、中でも特にUSB2.0やIEEE13964などの高速データ転送インターフェイスでは、非常に高いESD保護が求められている。現在、国際的な大手メーカでは、レベル4・接触8KV・空中15KV以上の耐久性が必要とされており、品質に重点を置くメーカの要求は更に高く、Pin-Direct Inject方式による製品の耐静電気テストを求めている。

 

アメージングテクノロジーの設計ソリューションは、この種のテストに特化しており、高速レスポンス・低オン電圧・低クランプ電圧・低容量のため、電子回路を静電気の影響から効果的に保護する。また、低容量の特性のため、搭載後にUSB2.0のデータ転送速度に影響を与えず、システム設計の難易度を下げることができる。

 

従来のテストでは、静電気ガンでシステムのケースに放電し、システムレベルのESDプロテクション性能を検査する。しかし、現在は実際の製品の使用状態をシミュレートできるPin-Direcrt Inject方式によるテストを求める製品が増加している。この種のテスト方法は、システム上で最も静電気のダメージを受けやすい露出した部分に、直接静電気ガンによる放電を行うため、より厳格なテストが可能になるとされている。実際に多くの顧客において、アメージングのソリューションは最も優れたESDプロテクションであることが実証されている。

 

 

 

NextSystem-Level ESD Protection for USB 3.0 Interfaces